Waferovací stroj Semilab CMS3 Ověřený prodejce

popis

RYCHLÁ BEZKONTAKTNÍ CHARAKTERIZACE MATERIÁLU A KONTROLA PROCESU

Emitorový odpor je po difúzi emitoru hlavním parametrem kontroly kvality křemíkových destiček ve fotovoltaických aplikacích.

Modely CLS, CLS-1A, CLS-3A a CLS-5A, Emitter Sheet Resistance Testers umožňují měření odporu plechu v 1 až 5 bodech s vysokou propustností, která splňuje požadavky in-line kontroly kvality v plně automatizovaných výrobních linkách článků.

Modely CMS, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers umožňují měření destiček, tj. dopravní pás se během měření nezastavuje. Proto mají vysokou propustnost, která splňuje požadavek na in-line kontrolu kvality v plně automatizovaných výrobních linkách buněk.

Vlastnosti a specifikace systému:

Měřicí technika: bezkontaktní, fotonapětí na přechodu (JPV).
Velikost vzorku: 100 až 156 mm (volitelně 210 mm)
Struktura vzorku: np nebo pn přechody
Rozsah měření: 10 Î/sq. až 200 I/sq.
Vzdálenost sondy: 1,5 mm výška sondy nad transportním pásem
Tolerance vertikální polohy destičky: 1: < 400 μm
Podpěra vzorku: na pásu
Kalibrace: podle destiček ověřených čtyřbodovou sondou
Volitelné příslušenství:

Měřicí modul (včetně hlavic pro měření odporu plechů 1A-5A)
Průmyslový počítač (operační systém Windows) a periferní zařízení
Volitelná kontrola emitorů CLS-1M
Snímač přítomnosti destičky (pouze CMS)
Široká škála dostupných rozhraní pro automatizaci a MES:

24V opticky izolované I/O, rozhraní Ethernet.
Profibus
OPC DA
Protokol TCP/IP, obsah může být XML nebo ASCII
Databáze SQL
SECS/GEM