Kategorier
Begynd at sælge

Konto

Log på
Opret en konto

Konto

Log på
Opret en konto
Metricon 2010/M P240314068
Metricon 2010/M P240314068
Metricon 2010/M P240314068
Metricon 2010/M P240314068

Metricon 2010/M Profilprojektor Verificeret sælger

Pris på forespørgsel

Kom med et modtilbud
Fabrikant Metricon
Model 2010/M
År 2018
Beliggenhed hjort US
Kategori Halvleder - Metrologiudstyr
Produkt-id P240314068
Sprog
bg Профилен проектор Metricon 2010/M
cs Projektor na kontrolu profilu Metricon 2010/M
da Metricon 2010/M Profilprojektor
de Metricon 2010/M Profilprojektor
el Προβολέας προφίλ Metricon 2010/M
en Metricon 2010/M Prism Coupler
es Proyector de perfil Metricon 2010/M
fr Projecteur de profil Metricon 2010/M
hr Projektor profila Metricon 2010/M
hu Metricon 2010/M Profil projektor
it Proiettor profili Metricon 2010/M
lt Profilinis projektorius Metricon 2010/M
nl Metricon 2010/M Profielprojector
pl Profile projector Metricon 2010/M
pt Projetor de perfil Metricon 2010/M
ro Proiector de profil Metricon 2010/M
ru Metricon 2010/M Проектор профил
sr Profil projektor Metricon 2010/M
sv Metricon 2010/M Profilprojektor
tr Profil projektörü Metricon 2010/M

specifikationer

Software
-------------------
Arbejdstimer
Timer under strøm
Stat godt
Efter lokale normer ---------
Status

Beskrivelse

Indeksnøjagtighed: ±.0005 (worst case). Absolut indeksnøjagtighed begrænses primært af usikkerheder ved bestemmelse af vinkel og brydningsindeks for måleprismet. For prøver af rimelig optisk kvalitet, hvis der bruges en tabel med høj opløsning, og hvis brugeren er villig til at udføre en simpel kalibreringsprocedure med hvert prisme, kan der opnås en absolut indeksnøjagtighed på ±.0001-.0002. NIST, fused silica og andre standarder er tilgængelige til indekskalibrering.
Indeksopløsning: ±.0003 (worst case). For prøver af rimelig optisk kvalitet kan indeksopløsningen forbedres op til ±.00005 ved brug af et højopløsningsdrejebord, en gratis mulighed.
Tykkelsesnøjagtighed: ±(0,5 % + 5 nm)
Tykkelsesopløsning: ±0,3 %.
Driftsbølgelængde: Valgfri kortere bølgelængder (405, 450, 473, 532, 594 nm) til måling af tyndere film og nær-IR (830, 980, 1064, 1310, 1550 nm) bølgelængder til fiber/integreret optik-applikationer er tilgængelige. Valgfrie kilder ændrer CDRH-sikkerhedsklassen til IIIa eller IIIb.
Typisk måletid: 10-25 sekunder med standardbord, 20-75 sekunder med højopløsningsbord.
Måleområde: Mens filmen og måleprismet er i kontakt over et område på ca. 8 mm i kvadrat, er det faktisk målte filmområde kun 1 mm i diameter.
Måleområde for brydningsindeks: Med standardprismer kan man måle film og bulkmaterialer med et brydningsindeks på 2,65 og derunder. Der findes specialiserede prismer, som tillader måling af indeks op til 3,35 (kontakt Metricon for detaljer).
Målbare filmtyper/tykkelsesområder: Model 2010/M kan måle stort set alle typer film, som ikke er metalliske eller meget stærkt absorberende ved driftsbølgelængden. I mange tilfælde kan tykkelsen og indekset af en eller begge film i dobbeltfilmlag måles*, forudsat at den øverste film har et højere brydningsindeks. Tykkelsen skal overstige en minimumstærskel, som afhænger af filmens og substratets (eller den underliggende films) indeks.

Bemærk venligst, at denne beskrivelse muligvis er blevet oversat automatisk. Kontakt os for yderligere information. Oplysningerne i denne rubrikannonce er kun vejledende. Exapro anbefaler at tjekke detaljerne med sælgeren inden et køb


Klienttype Forhandler
Aktiv siden 2019
Tilbud online 73
Sidste aktivitet 7. januar 2025

Beskrivelse

Indeksnøjagtighed: ±.0005 (worst case). Absolut indeksnøjagtighed begrænses primært af usikkerheder ved bestemmelse af vinkel og brydningsindeks for måleprismet. For prøver af rimelig optisk kvalitet, hvis der bruges en tabel med høj opløsning, og hvis brugeren er villig til at udføre en simpel kalibreringsprocedure med hvert prisme, kan der opnås en absolut indeksnøjagtighed på ±.0001-.0002. NIST, fused silica og andre standarder er tilgængelige til indekskalibrering.
Indeksopløsning: ±.0003 (worst case). For prøver af rimelig optisk kvalitet kan indeksopløsningen forbedres op til ±.00005 ved brug af et højopløsningsdrejebord, en gratis mulighed.
Tykkelsesnøjagtighed: ±(0,5 % + 5 nm)
Tykkelsesopløsning: ±0,3 %.
Driftsbølgelængde: Valgfri kortere bølgelængder (405, 450, 473, 532, 594 nm) til måling af tyndere film og nær-IR (830, 980, 1064, 1310, 1550 nm) bølgelængder til fiber/integreret optik-applikationer er tilgængelige. Valgfrie kilder ændrer CDRH-sikkerhedsklassen til IIIa eller IIIb.
Typisk måletid: 10-25 sekunder med standardbord, 20-75 sekunder med højopløsningsbord.
Måleområde: Mens filmen og måleprismet er i kontakt over et område på ca. 8 mm i kvadrat, er det faktisk målte filmområde kun 1 mm i diameter.
Måleområde for brydningsindeks: Med standardprismer kan man måle film og bulkmaterialer med et brydningsindeks på 2,65 og derunder. Der findes specialiserede prismer, som tillader måling af indeks op til 3,35 (kontakt Metricon for detaljer).
Målbare filmtyper/tykkelsesområder: Model 2010/M kan måle stort set alle typer film, som ikke er metalliske eller meget stærkt absorberende ved driftsbølgelængden. I mange tilfælde kan tykkelsen og indekset af en eller begge film i dobbeltfilmlag måles*, forudsat at den øverste film har et højere brydningsindeks. Tykkelsen skal overstige en minimumstærskel, som afhænger af filmens og substratets (eller den underliggende films) indeks.

Bemærk venligst, at denne beskrivelse muligvis er blevet oversat automatisk. Kontakt os for yderligere information. Oplysningerne i denne rubrikannonce er kun vejledende. Exapro anbefaler at tjekke detaljerne med sælgeren inden et køb

Specifikationer

Software
-------------------
Arbejdstimer
Timer under strøm
Stat godt
Efter lokale normer ---------
Status

Om denne sælger

Klienttype Forhandler
Aktiv siden 2019
Tilbud online 73
Sidste aktivitet 7. januar 2025

Her er et udvalg af lignende maskiner

Se alle alternativer

Indlæser lignende maskiner...

Kategorier

Menu Kategorier Søg

Menu

Begynd at sælge

Metricon 2010/M Profilprojektor