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FEI Company, Holland Titan G2 80-200 P240923143
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FEI Company, Holland Titan G2 80-200 Analysegerät Verifizierter Verkäufer

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Hersteller FEI Company, Holland
Typ Titan G2 80-200
Baujahr 2014
Standort Rumänien RO
Kategorie Analysegeräte
Produkt ID P240923143
Sprache
bg Аналитичен инструмент FEI Company, Holland Titan G2 80-200
cs Analytický přístroj FEI Company, Holland Titan G2 80-200
da FEI Company, Holland Titan G2 80-200 Analytisk instrument
de FEI Company, Holland Titan G2 80-200 Analysegerät
el Αναλυτικό όργανο FEI Company, Holland Titan G2 80-200
en Electronic transmission microscope Titan G2 80-200
es Material de análisis FEI Company, Holland Titan G2 80-200
fr Matériel d'analyse FEI Company, Holland Titan G2 80-200
hr Analitički instrument FEI Company, Holland Titan G2 80-200
hu FEI Company, Holland Titan G2 80-200 Analitikai műszer
it Macchina per analisi FEI Company, Holland Titan G2 80-200
lt Analitinė priemonė FEI Company, Holland Titan G2 80-200
nl FEI Company, Holland Titan G2 80-200 Analytisch instrument
pl Używane urządzenie analityczne FEI Company, Holland Titan G2 80-200
pt Instrumento analítico FEI Company, Holland Titan G2 80-200
ro Instrument analitic FEI Company, Holland Titan G2 80-200
ru FEI Company, Holland Titan G2 80-200 Аналитический инструмент
sr Analitički instrument FEI Company, Holland Titan G2 80-200
sv FEI Company, Holland Titan G2 80-200 Analytiskt instrument
tr Analitik araç / gereç FEI Company, Holland Titan G2 80-200

Detaillierte Informationen

Art Mikroskop
Software
-------------------
Betriebsstunden
Einschaltstunden
Zustand gut
CE-Norm ---------
Status in Produktion

Beschreibung

Das Titan™ G2 80-200 ist ein Hochleistungs-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) mit Rasterelektronenmikroskopie (STEM), das für die Bildgebung mit atomarer Auflösung und die chemische Identifizierung entwickelt wurde. Es arbeitet mit Beschleunigungsspannungen zwischen 80-200 kV und verfügt über eine feldemittierende Elektronenkanone (FEG). Als Teil der Titan G2-Familie bietet es außergewöhnliche Leistung in allen Modi: TEM, STEM, EFTEM und EELS, mit Auflösungen von 0,09 nm im TEM-Modus und 0,08 nm im STEM-Modus.

Ausgestattet mit der ChemiSTEM™-Technologie bietet es fortschrittliche analytische Möglichkeiten, einschließlich einer X-FEG-High-Brightness-Kanone und eines DCOR-Cs-Sondenkorrektors, die optische Auflösungen von 80 pm im STEM- und 90 pm im TEM-Modus erreichen. Das ChemiSTEM™-System mit einem Super-X 4-SDD, einem fensterlosen EDX-Detektor und einer schnellen Mapping-Elektronik ermöglicht ein schnelles Element-Mapping mit 100.000 Spektren pro Sekunde. Es erhöht die Geschwindigkeit und Empfindlichkeit des EDX-Mappings um das 50- bis 100-fache im Vergleich zu herkömmlichen Systemen und unterstützt die EDX-Tomographie für das 3D-Elementmapping.

Zum Design des Mikroskops gehören ein Drei-Linsen-Kondensorsystem, eine modulare Säule für Stabilität und ein ConstantPower™-Linsensystem für thermische Konsistenz. Der große Polschuhabstand ermöglicht spezielle Halterungen und große Kippwinkel für fortschrittliche Analysen. Ein computergesteuerter 5-Achsen-Probentisch gewährleistet eine präzise Positionierung und minimale Drift für hochauflösende Untersuchungen.

Zu den wichtigsten Vorteilen gehören die hochempfindliche Abbildung auf atomarer Ebene, die hochauflösende Bildgebung und eine stabile Elektronenquelle. Das System ist vielseitig einsetzbar und verfügt über ein ölfreies Vakuum, einen großen Flüssigstickstoff-Dewar und ein umfassendes EDX-Mikroanalysesystem. Die Installation erfordert eine stabile Umgebung, spezifische Strom- und Kühlungsanforderungen und Vorkehrungen für die Gas- und Vakuumversorgung, um eine optimale Leistung für die fortgeschrittene Forschung in der Materialwissenschaft und Nanotechnologie zu gewährleisten.

Bitte beachten Sie, dass diese Beschreibung automatich übersetzt wurde. Für weitere Informationen stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung. Die Angaben in dieser Anzeige sind unverbindlich. Wir empfehlen, die Details vor einem Kauf mit dem Verkäufer zu überprüfen.


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Das Titan™ G2 80-200 ist ein Hochleistungs-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) mit Rasterelektronenmikroskopie (STEM), das für die Bildgebung mit atomarer Auflösung und die chemische Identifizierung entwickelt wurde. Es arbeitet mit Beschleunigungsspannungen zwischen 80-200 kV und verfügt über eine feldemittierende Elektronenkanone (FEG). Als Teil der Titan G2-Familie bietet es außergewöhnliche Leistung in allen Modi: TEM, STEM, EFTEM und EELS, mit Auflösungen von 0,09 nm im TEM-Modus und 0,08 nm im STEM-Modus.

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Zum Design des Mikroskops gehören ein Drei-Linsen-Kondensorsystem, eine modulare Säule für Stabilität und ein ConstantPower™-Linsensystem für thermische Konsistenz. Der große Polschuhabstand ermöglicht spezielle Halterungen und große Kippwinkel für fortschrittliche Analysen. Ein computergesteuerter 5-Achsen-Probentisch gewährleistet eine präzise Positionierung und minimale Drift für hochauflösende Untersuchungen.

Zu den wichtigsten Vorteilen gehören die hochempfindliche Abbildung auf atomarer Ebene, die hochauflösende Bildgebung und eine stabile Elektronenquelle. Das System ist vielseitig einsetzbar und verfügt über ein ölfreies Vakuum, einen großen Flüssigstickstoff-Dewar und ein umfassendes EDX-Mikroanalysesystem. Die Installation erfordert eine stabile Umgebung, spezifische Strom- und Kühlungsanforderungen und Vorkehrungen für die Gas- und Vakuumversorgung, um eine optimale Leistung für die fortgeschrittene Forschung in der Materialwissenschaft und Nanotechnologie zu gewährleisten.

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