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Semilab CMS3 P240314066
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Semilab CMS3 Waferanlage Verifizierter Verkäufer

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Hersteller Semilab
Typ CMS3
Baujahr
Standort USA US
Kategorie Halbleiter - Messgeräte
Produkt ID P240314066
Sprache
bg Машина за вафли Semilab CMS3
cs Waferovací stroj Semilab CMS3
da Semilab CMS3 Wafer maskine
de Semilab CMS3 Waferanlage
el Μηχανή γκοφρέτας Semilab CMS3
en Semilab CMS3 Sheet Resistance Measuring System
es Máquina para wafer Semilab CMS3
fr Machine pour wafer Semilab CMS3
hr Stroj za oblatne Semilab CMS3
hu Semilab CMS3 Ostya gép
it Macchina per wafer Semilab CMS3
lt Vaflių mašina Semilab CMS3
nl Semilab CMS3 Wafelmachine
pl Maszyna do produkcji płytek półprzewodnikowych Semilab CMS3
pt Máquina de wafer Semilab CMS3
ro Aparat pentru napolitane Semilab CMS3
ru Semilab CMS3 Пластина
sr Mašina za vafle Semilab CMS3
sv Semilab CMS3 Wafer maskin
tr Wafer Makinası Semilab CMS3

Detaillierte Informationen

Software
-------------------
Betriebsstunden
Einschaltstunden
Zustand gut
CE-Norm ---------
Status

Beschreibung

SCHNELLE BERÜHRUNGSLOSE MATERIALCHARAKTERISIERUNG UND PROZESSKONTROLLE

Der Emitterschichtwiderstand ist ein primärer Qualitätskontrollparameter für Siliziumwafer in PV-Anwendungen nach der Emitterdiffusion.

Die CLS-Modelle CLS-1A, CLS-3A und CLS-5A ermöglichen die Messung des Schichtwiderstands an 1 bis 5 Punkten mit einem hohen Durchsatz, der die Anforderungen der Inline-Qualitätskontrolle in vollautomatischen Zellproduktionslinien erfüllt.

Die CMS-Modelle, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Tester ermöglichen die Messung von Wafern, d.h. das Förderband wird während der Messung nicht angehalten. Daher haben sie einen hohen Durchsatz, der die Anforderungen der Inline-Qualitätskontrolle in vollautomatischen Zellproduktionslinien erfüllt.

Merkmale und Systemspezifikationen:

Messtechnik: berührungslos, Sperrschicht-Photospannung (JPV)
Probengröße: 100 bis 156 mm (210mm Option)
Probenstruktur: np- oder pn-Übergänge
Messbereich: 10 Î/sq. bis 200 I/sq.
Sondenabstand: 1,5 mm Sondenhöhe über Transportbel
Wafer vertikale Positionstoleranz: < 400 μm
Probenhalterung: auf Band
Kalibrierung: durch Wafer verifiziert mit Vierpunktsonde
Optionen:

Messmodul (inkl. 1A-5A Schichtwiderstandsmessköpfe)
Industrie-PC (Windows-Betriebssystem) und Peripheriegeräte
Option CLS-1M-Emitter-Prüfgerät
Wafer-Präsenzsensor (nur CMS)
Vielfältige Schnittstellen zu Automatisierung und MES:

24V optoisolierte E/A, Ethernet-Schnittstelle
Profibus
OPC DA
TCP/IP-Protokoll, Inhalt kann XML oder ASCII sein
SQL-Datenbank
SECS/GEM

Bitte beachten Sie, dass diese Beschreibung automatich übersetzt wurde. Für weitere Informationen stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung. Die Angaben in dieser Anzeige sind unverbindlich. Wir empfehlen, die Details vor einem Kauf mit dem Verkäufer zu überprüfen.


Art von Kunde Händler
1. Registrierung 2019
Online Angeboten 73
Letzte log in 21. November 2024

Beschreibung

SCHNELLE BERÜHRUNGSLOSE MATERIALCHARAKTERISIERUNG UND PROZESSKONTROLLE

Der Emitterschichtwiderstand ist ein primärer Qualitätskontrollparameter für Siliziumwafer in PV-Anwendungen nach der Emitterdiffusion.

Die CLS-Modelle CLS-1A, CLS-3A und CLS-5A ermöglichen die Messung des Schichtwiderstands an 1 bis 5 Punkten mit einem hohen Durchsatz, der die Anforderungen der Inline-Qualitätskontrolle in vollautomatischen Zellproduktionslinien erfüllt.

Die CMS-Modelle, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Tester ermöglichen die Messung von Wafern, d.h. das Förderband wird während der Messung nicht angehalten. Daher haben sie einen hohen Durchsatz, der die Anforderungen der Inline-Qualitätskontrolle in vollautomatischen Zellproduktionslinien erfüllt.

Merkmale und Systemspezifikationen:

Messtechnik: berührungslos, Sperrschicht-Photospannung (JPV)
Probengröße: 100 bis 156 mm (210mm Option)
Probenstruktur: np- oder pn-Übergänge
Messbereich: 10 Î/sq. bis 200 I/sq.
Sondenabstand: 1,5 mm Sondenhöhe über Transportbel
Wafer vertikale Positionstoleranz: < 400 μm
Probenhalterung: auf Band
Kalibrierung: durch Wafer verifiziert mit Vierpunktsonde
Optionen:

Messmodul (inkl. 1A-5A Schichtwiderstandsmessköpfe)
Industrie-PC (Windows-Betriebssystem) und Peripheriegeräte
Option CLS-1M-Emitter-Prüfgerät
Wafer-Präsenzsensor (nur CMS)
Vielfältige Schnittstellen zu Automatisierung und MES:

24V optoisolierte E/A, Ethernet-Schnittstelle
Profibus
OPC DA
TCP/IP-Protokoll, Inhalt kann XML oder ASCII sein
SQL-Datenbank
SECS/GEM

Bitte beachten Sie, dass diese Beschreibung automatich übersetzt wurde. Für weitere Informationen stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung. Die Angaben in dieser Anzeige sind unverbindlich. Wir empfehlen, die Details vor einem Kauf mit dem Verkäufer zu überprüfen.

Detaillierte Informationen

Software
-------------------
Betriebsstunden
Einschaltstunden
Zustand gut
CE-Norm ---------
Status

Bezüglich der/die Besitzer /in

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