Máquina para wafer Semilab CMS3 Vendedor verificado

descripción

CARACTERIZACIÓN RÁPIDA Y SIN CONTACTO DE MATERIALES Y CONTROL DE PROCESOS

La resistencia de la lámina del emisor es un parámetro primario de control de calidad de las obleas de silicio en aplicaciones fotovoltaicas después de la difusión del emisor.

Los modelos CLS-1A, CLS-3A y CLS-5A de comprobadores de resistencia de la lámina emisora permiten medir la resistencia de la lámina en 1 a 5 puntos con el alto rendimiento que exige el control de calidad en línea en líneas de producción de células totalmente automatizadas.

Los modelos CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers permiten la medición de obleas, es decir, la cinta transportadora no se detiene durante la medición. Por lo tanto, tienen el alto rendimiento que cumple con el requisito de control de calidad en línea en líneas de producción de células totalmente automatizadas.

Características y especificaciones del sistema:

Técnica de medición: sin contacto, fotovoltaje de unión (JPV)
Tamaño de la muestra: de 100 a 156 mm (210 mm opcional)
Estructura de la muestra: uniones np o pn
Rango de medida: 10 Î/cuadrado a 200 I/cuadrado
Distancia de la sonda: 1,5 mm de altura de la sonda por encima del cinturón de transporte
Tolerancia de la posición vertical de la oblea < 400 μm
Soporte de la muestra: sobre cinta
Calibración: por obleas verificadas con sonda de cuatro puntos
Opciones:

Módulo de medición (incl. cabezales de medición de la resistencia de las obleas 1A-5A)
PC industrial (sistema operativo Windows) y periféricos
Opción de comprobador de emisores CLS-1M
Sensor de presencia de obleas (sólo CMS)
Amplia variedad de interfaces disponibles para automatización y MES:

E/S con aislamiento óptico de 24 V, interfaz Ethernet
Profibus
OPC DA
protocolo TCP/IP, el contenido puede ser XML o ASCII
Base de datos SQL
SECS/GEM