Categorías
Empezar a vender

Cuenta

Iniciar sesión
Crear una cuenta

Cuenta

Iniciar sesión
Crear una cuenta
Semilab CMS3 P240314066
Semilab CMS3 P240314066
Semilab CMS3 P240314066
Semilab CMS3 P240314066

Máquina para wafer Semilab CMS3 Vendedor verificado

Consultar precio

Hacer una oferta
Fabricante Semilab
Modelo CMS3
Año
Ubicación Estados Unidos US
Categoria Semiconductor - Equipo de metrología
Número de producto P240314066
Idioma
bg Машина за вафли Semilab CMS3
cs Waferovací stroj Semilab CMS3
da Semilab CMS3 Wafer maskine
de Semilab CMS3 Waferanlage
el Μηχανή γκοφρέτας Semilab CMS3
en Semilab CMS3 Sheet Resistance Measuring System
es Máquina para wafer Semilab CMS3
fr Machine pour wafer Semilab CMS3
hr Stroj za oblatne Semilab CMS3
hu Semilab CMS3 Ostya gép
it Macchina per wafer Semilab CMS3
lt Vaflių mašina Semilab CMS3
nl Semilab CMS3 Wafelmachine
pl Maszyna do produkcji płytek półprzewodnikowych Semilab CMS3
pt Máquina de wafer Semilab CMS3
ro Aparat pentru napolitane Semilab CMS3
ru Semilab CMS3 Пластина
sr Mašina za vafle Semilab CMS3
sv Semilab CMS3 Wafer maskin
tr Wafer Makinası Semilab CMS3

Información avanzada

Software
-------------------
Horas en marcha
Horas bajo tensión
Estado general bueno
Con Normativas CE ---------
Condición

descripción

CARACTERIZACIÓN RÁPIDA Y SIN CONTACTO DE MATERIALES Y CONTROL DE PROCESOS

La resistencia de la lámina del emisor es un parámetro primario de control de calidad de las obleas de silicio en aplicaciones fotovoltaicas después de la difusión del emisor.

Los modelos CLS-1A, CLS-3A y CLS-5A de comprobadores de resistencia de la lámina emisora permiten medir la resistencia de la lámina en 1 a 5 puntos con el alto rendimiento que exige el control de calidad en línea en líneas de producción de células totalmente automatizadas.

Los modelos CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers permiten la medición de obleas, es decir, la cinta transportadora no se detiene durante la medición. Por lo tanto, tienen el alto rendimiento que cumple con el requisito de control de calidad en línea en líneas de producción de células totalmente automatizadas.

Características y especificaciones del sistema:

Técnica de medición: sin contacto, fotovoltaje de unión (JPV)
Tamaño de la muestra: de 100 a 156 mm (210 mm opcional)
Estructura de la muestra: uniones np o pn
Rango de medida: 10 Î/cuadrado a 200 I/cuadrado
Distancia de la sonda: 1,5 mm de altura de la sonda por encima del cinturón de transporte
Tolerancia de la posición vertical de la oblea < 400 μm
Soporte de la muestra: sobre cinta
Calibración: por obleas verificadas con sonda de cuatro puntos
Opciones:

Módulo de medición (incl. cabezales de medición de la resistencia de las obleas 1A-5A)
PC industrial (sistema operativo Windows) y periféricos
Opción de comprobador de emisores CLS-1M
Sensor de presencia de obleas (sólo CMS)
Amplia variedad de interfaces disponibles para automatización y MES:

E/S con aislamiento óptico de 24 V, interfaz Ethernet
Profibus
OPC DA
protocolo TCP/IP, el contenido puede ser XML o ASCII
Base de datos SQL
SECS/GEM

Por favor, tenga en cuenta que la descripción puede ser automatizada. Contactar con nosotros para más informaciones. La información de este anuncio clasificado sólo es indicativa. Recomendamos a los compradores que la comprueben con el vendedor antes de la compra.


Tipo de cliente Revendedor
Activo desde 2019
Ofertas en línea 73
Última actividad 19 de diciembre de 2024

Descripción

CARACTERIZACIÓN RÁPIDA Y SIN CONTACTO DE MATERIALES Y CONTROL DE PROCESOS

La resistencia de la lámina del emisor es un parámetro primario de control de calidad de las obleas de silicio en aplicaciones fotovoltaicas después de la difusión del emisor.

Los modelos CLS-1A, CLS-3A y CLS-5A de comprobadores de resistencia de la lámina emisora permiten medir la resistencia de la lámina en 1 a 5 puntos con el alto rendimiento que exige el control de calidad en línea en líneas de producción de células totalmente automatizadas.

Los modelos CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers permiten la medición de obleas, es decir, la cinta transportadora no se detiene durante la medición. Por lo tanto, tienen el alto rendimiento que cumple con el requisito de control de calidad en línea en líneas de producción de células totalmente automatizadas.

Características y especificaciones del sistema:

Técnica de medición: sin contacto, fotovoltaje de unión (JPV)
Tamaño de la muestra: de 100 a 156 mm (210 mm opcional)
Estructura de la muestra: uniones np o pn
Rango de medida: 10 Î/cuadrado a 200 I/cuadrado
Distancia de la sonda: 1,5 mm de altura de la sonda por encima del cinturón de transporte
Tolerancia de la posición vertical de la oblea < 400 μm
Soporte de la muestra: sobre cinta
Calibración: por obleas verificadas con sonda de cuatro puntos
Opciones:

Módulo de medición (incl. cabezales de medición de la resistencia de las obleas 1A-5A)
PC industrial (sistema operativo Windows) y periféricos
Opción de comprobador de emisores CLS-1M
Sensor de presencia de obleas (sólo CMS)
Amplia variedad de interfaces disponibles para automatización y MES:

E/S con aislamiento óptico de 24 V, interfaz Ethernet
Profibus
OPC DA
protocolo TCP/IP, el contenido puede ser XML o ASCII
Base de datos SQL
SECS/GEM

Por favor, tenga en cuenta que la descripción puede ser automatizada. Contactar con nosotros para más informaciones. La información de este anuncio clasificado sólo es indicativa. Recomendamos a los compradores que la comprueben con el vendedor antes de la compra.

Información avanzada

Software
-------------------
Horas en marcha
Horas bajo tensión
Estado general bueno
Con Normativas CE ---------
Condición

Información acerca del vendedor

Tipo de cliente Revendedor
Activo desde 2019
Ofertas en línea 73
Última actividad 19 de diciembre de 2024

Aquí es una selección de máquinas similares

Ver todas las alternativas

Cargando máquinas similares...

Categorías

Menú Categorías Buscar

Menú

Empezar a vender

Máquina para wafer Semilab CMS3