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Metricon 2010/M P240314068
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Metricon 2010/M P240314068
Metricon 2010/M P240314068

Projecteur de profil Metricon 2010/M Vendeur vérifié

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Fabricant Metricon
Modèle 2010/M
Année 2018
Localisation États-Unis US
Catégorie Semi-conducteur - Equipements de métrologie
Numéro de produit P240314068
Langue
bg Профилен проектор Metricon 2010/M
cs Projektor na kontrolu profilu Metricon 2010/M
da Metricon 2010/M Profilprojektor
de Metricon 2010/M Profilprojektor
el Προβολέας προφίλ Metricon 2010/M
en Metricon 2010/M Prism Coupler
es Proyector de perfil Metricon 2010/M
fr Projecteur de profil Metricon 2010/M
hr Projektor profila Metricon 2010/M
hu Metricon 2010/M Profil projektor
it Proiettor profili Metricon 2010/M
lt Profilinis projektorius Metricon 2010/M
nl Metricon 2010/M Profielprojector
pl Profile projector Metricon 2010/M
pt Projetor de perfil Metricon 2010/M
ro Proiector de profil Metricon 2010/M
ru Metricon 2010/M Проектор профил
sr Profil projektor Metricon 2010/M
sv Metricon 2010/M Profilprojektor
tr Profil projektörü Metricon 2010/M

Spécifications

Logiciel
-------------------
Heures de travail
Heures sous tension
État bon
Aux normes locales ---------
Statut

description

Précision de l'indice : ± 0,0005 (dans le pire des cas). La précision absolue de l'indice est limitée principalement par les incertitudes liées à la détermination de l'angle et de l'indice de réfraction du prisme de mesure. Pour des échantillons de qualité optique raisonnable, si une table à haute résolution est utilisée et si l'utilisateur est disposé à effectuer une procédure d'étalonnage simple avec chaque prisme, une précision absolue de l'indice de ± 0,0001- 0,0002 peut être obtenue. Des étalons NIST, en silice fondue et autres sont disponibles pour l'étalonnage de l'indice.
Résolution de l'indice : ± 0,0003 (dans le pire des cas). Pour les échantillons de qualité optique raisonnable, la résolution de l'indice peut être améliorée jusqu'à ± 0,00005 par l'utilisation d'une table rotative à haute résolution, une option gratuite.
Précision de l'épaisseur : ±(0,5% + 5 nm)
Résolution de l'épaisseur : ±0,3
Longueur d'onde de fonctionnement : Des longueurs d'onde plus courtes (405, 450, 473, 532, 594 nm) pour la mesure de films plus fins et des longueurs d'onde proches de l'infrarouge (830, 980, 1064, 1310, 1550 nm) pour les applications de fibre optique et d'optique intégrée sont disponibles en option. Des sources optionnelles permettent de modifier la classe de sécurité CDRH en IIIa ou IIIb.
Temps de mesure typique : 10-25 secondes avec la table standard, 20-75 secondes avec la table haute résolution.
Zone de mesure : Alors que le film et le prisme de mesure sont en contact sur une surface d'environ 8 mm de côté, la surface du film réellement mesurée n'est que de 1 mm de diamètre.
Plage de mesure de l'indice de réfraction : Les prismes standard permettent de mesurer des films et des matériaux en vrac dont l'indice de réfraction est inférieur ou égal à 2,65. Des prismes spécialisés sont disponibles pour permettre des mesures d'indice jusqu'à 3,35 (consulter Metricon pour plus de détails).
Types de films/plages d'épaisseur mesurables : Le modèle 2010/M peut mesurer pratiquement n'importe quel type de film qui n'est pas métallique ou très fortement absorbant à la longueur d'onde de fonctionnement. Dans de nombreux cas, l'épaisseur et l'indice d'un ou des deux films d'une couche double sont mesurables*, à condition que le film supérieur ait un indice de réfraction plus élevé. L'épaisseur doit dépasser un seuil minimum qui dépend de l'indice du film et du substrat (ou du film sous-jacent).

Veuillez noter que cette description a pu être traduite automatiquement, merci de nous contacter si vous avez besoin d'informations complémentaires. Les informations de cette annonce ne sont données qu'à titre indicatif. Nous recommandons de les vérifier avec le vendeur avant tout achat


Type de client Revendeur
Actif depuis 2019
Offres en ligne 73
Dernière activité 30 janvier 2025

Description

Précision de l'indice : ± 0,0005 (dans le pire des cas). La précision absolue de l'indice est limitée principalement par les incertitudes liées à la détermination de l'angle et de l'indice de réfraction du prisme de mesure. Pour des échantillons de qualité optique raisonnable, si une table à haute résolution est utilisée et si l'utilisateur est disposé à effectuer une procédure d'étalonnage simple avec chaque prisme, une précision absolue de l'indice de ± 0,0001- 0,0002 peut être obtenue. Des étalons NIST, en silice fondue et autres sont disponibles pour l'étalonnage de l'indice.
Résolution de l'indice : ± 0,0003 (dans le pire des cas). Pour les échantillons de qualité optique raisonnable, la résolution de l'indice peut être améliorée jusqu'à ± 0,00005 par l'utilisation d'une table rotative à haute résolution, une option gratuite.
Précision de l'épaisseur : ±(0,5% + 5 nm)
Résolution de l'épaisseur : ±0,3
Longueur d'onde de fonctionnement : Des longueurs d'onde plus courtes (405, 450, 473, 532, 594 nm) pour la mesure de films plus fins et des longueurs d'onde proches de l'infrarouge (830, 980, 1064, 1310, 1550 nm) pour les applications de fibre optique et d'optique intégrée sont disponibles en option. Des sources optionnelles permettent de modifier la classe de sécurité CDRH en IIIa ou IIIb.
Temps de mesure typique : 10-25 secondes avec la table standard, 20-75 secondes avec la table haute résolution.
Zone de mesure : Alors que le film et le prisme de mesure sont en contact sur une surface d'environ 8 mm de côté, la surface du film réellement mesurée n'est que de 1 mm de diamètre.
Plage de mesure de l'indice de réfraction : Les prismes standard permettent de mesurer des films et des matériaux en vrac dont l'indice de réfraction est inférieur ou égal à 2,65. Des prismes spécialisés sont disponibles pour permettre des mesures d'indice jusqu'à 3,35 (consulter Metricon pour plus de détails).
Types de films/plages d'épaisseur mesurables : Le modèle 2010/M peut mesurer pratiquement n'importe quel type de film qui n'est pas métallique ou très fortement absorbant à la longueur d'onde de fonctionnement. Dans de nombreux cas, l'épaisseur et l'indice d'un ou des deux films d'une couche double sont mesurables*, à condition que le film supérieur ait un indice de réfraction plus élevé. L'épaisseur doit dépasser un seuil minimum qui dépend de l'indice du film et du substrat (ou du film sous-jacent).

Veuillez noter que cette description a pu être traduite automatiquement, merci de nous contacter si vous avez besoin d'informations complémentaires. Les informations de cette annonce ne sont données qu'à titre indicatif. Nous recommandons de les vérifier avec le vendeur avant tout achat

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Logiciel
-------------------
Heures de travail
Heures sous tension
État bon
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