Spécifications

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Heures de travail
Heures sous tension
État bon
Aux normes locales ---------
Statut

description

ULTRATECH SAVANNAH G2
Système de dépôt par laser atomique
Volts : 100-120 VAC
KVA : 1.5KVA-2KVA
HERTZ : 50-60 Hz
La plateforme Savannah G2 intègre une large gamme d'options avancées et évolutives destinées à aider les chercheurs sérieux à élargir leur portefeuille de films ALD disponibles, et à leur permettre de caractériser les films en temps réel. Parmi les options du Savannah G2, un système unique de livraison de précurseurs à faible teneur en vapeur a été développé pour permettre la croissance de nouveaux matériaux, y compris des films à un ou plusieurs composants de pérovskite, d'yttrium, de lithium et des familles de terres rares. Des options supplémentaires telles que l'ellipsométrie, la microbalance à cristal de quartz (QCM) et la spectrométrie de masse permettent la croissance simultanée de films ALD et la caractérisation en temps réel du processus de dépôt, qui sont toutes des capacités indispensables pour les activités de développement et d'optimisation des processus.

Veuillez noter que cette description a pu être traduite automatiquement, merci de nous contacter si vous avez besoin d'informations complémentaires. Les informations de cette annonce ne sont données qu'à titre indicatif. Nous recommandons de les vérifier avec le vendeur avant tout achat


Type de client Revendeur
Actif depuis 2014
Offres en ligne 24
Dernière activité 11 septembre 2024

Description

ULTRATECH SAVANNAH G2
Système de dépôt par laser atomique
Volts : 100-120 VAC
KVA : 1.5KVA-2KVA
HERTZ : 50-60 Hz
La plateforme Savannah G2 intègre une large gamme d'options avancées et évolutives destinées à aider les chercheurs sérieux à élargir leur portefeuille de films ALD disponibles, et à leur permettre de caractériser les films en temps réel. Parmi les options du Savannah G2, un système unique de livraison de précurseurs à faible teneur en vapeur a été développé pour permettre la croissance de nouveaux matériaux, y compris des films à un ou plusieurs composants de pérovskite, d'yttrium, de lithium et des familles de terres rares. Des options supplémentaires telles que l'ellipsométrie, la microbalance à cristal de quartz (QCM) et la spectrométrie de masse permettent la croissance simultanée de films ALD et la caractérisation en temps réel du processus de dépôt, qui sont toutes des capacités indispensables pour les activités de développement et d'optimisation des processus.

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