Kategorije
Počnite prodavati

Račun

Prijaviti se
Stvorite račun

Račun

Prijaviti se
Stvorite račun
Metricon 2010/M P240314068
Metricon 2010/M P240314068
Metricon 2010/M P240314068
Metricon 2010/M P240314068

Projektor profila Metricon 2010/M Provjereni prodavač

Cijena na upit

Dajte protuponudu
Proizvođač Metricon
Model 2010/M
Godina 2018
Mjesto jelen US
Kategorija Poluvodič - mjeriteljska oprema
Identifikacijski broj proizvoda P240314068
Jezik
bg Профилен проектор Metricon 2010/M
cs Projektor na kontrolu profilu Metricon 2010/M
da Metricon 2010/M Profilprojektor
de Metricon 2010/M Profilprojektor
el Προβολέας προφίλ Metricon 2010/M
en Metricon 2010/M Prism Coupler
es Proyector de perfil Metricon 2010/M
fr Projecteur de profil Metricon 2010/M
hr Projektor profila Metricon 2010/M
hu Metricon 2010/M Profil projektor
it Proiettor profili Metricon 2010/M
lt Profilinis projektorius Metricon 2010/M
nl Metricon 2010/M Profielprojector
pl Profile projector Metricon 2010/M
pt Projetor de perfil Metricon 2010/M
ro Proiector de profil Metricon 2010/M
ru Metricon 2010/M Проектор профил
sr Profil projektor Metricon 2010/M
sv Metricon 2010/M Profilprojektor
tr Profil projektörü Metricon 2010/M

Tehnički podaci

Softver
-------------------
Odrađeni sati
Sati pod strujom
Država dobro
Prema lokalnim normama ---------
Status

Opis

Točnost indeksa: ±.0005 (najgori slučaj). Apsolutna točnost indeksa ograničena je prvenstveno nesigurnošću u određivanju kuta i indeksa loma mjerne prizme. Za uzorke razumne optičke kvalitete, ako se koristi tablica visoke razlučivosti i ako je korisnik voljan izvesti jednostavan postupak kalibracije sa svakom prizmom, može se postići apsolutna točnost indeksa od ±.0001-.0002. NIST, fuzionirani silicij i drugi standardi dostupni su za kalibraciju indeksa.
Razlučivost indeksa: ±.0003 (najgori slučaj). Za uzorke razumne optičke kvalitete, rezolucija indeksa može se poboljšati do ±.00005 korištenjem rotirajućeg stola visoke rezolucije, besplatne opcije.
Preciznost debljine: ±(0,5% + 5 nm)
Razlučivost debljine: ±0,3%
Radna valna duljina: Dostupne su dodatne kraće valne duljine (405, 450, 473, 532, 594 nm) za mjerenje tanjih filmova i blizu IR (830, 980, 1064, 1310, 1550 nm) valne duljine za aplikacije s vlaknima/integriranom optikom. Izborni izvori mijenjaju CDRH sigurnosnu klasu u IIIa ili IIIb.
Tipično vrijeme mjerenja: 10-25 sekundi sa standardnom tablicom, 20-75 sekundi sa tablicom visoke rezolucije.
Područje mjerenja: dok su film i mjerna prizma u kontaktu preko površine od otprilike 8 mm kvadratnih, stvarno izmjereno područje filma je samo 1 mm promjera.
Raspon mjerenja indeksa loma: sa standardnim prizmama, filmovi i rasuti materijali s indeksom loma 2,65 i manjim su mjerljivi. Dostupne su specijalizirane prizme koje omogućuju mjerenje indeksa do 3,35 (konzultirajte Metricon za detalje).
Vrste filmova/rasponi debljina mjerljivi: Model 2010/M može mjeriti gotovo sve vrste filmova koji nisu metalni ili imaju visoku apsorpciju na radnoj valnoj duljini. U mnogim slučajevima, debljina i indeks jednog ili oba filma dvostrukih slojeva filma su mjerljivi*, pod uvjetom da gornji film ima veći indeks loma. Debljina mora premašiti minimalni prag koji ovisi o indeksu filma i podloge (ili donjeg filma).

Imajte na umu da je ovaj opis možda automatski preveden. Kontaktirajte nas za daljnje informacije. Podaci u ovom malom oglasu su okvirni. Exapro preporuča da prije kupnje provjerite detalje kod prodavatelja


Tip klijenta Trgovac
Aktivan od 2019
Ponude online 73
Zadnja aktivnost 21. studenoga 2024.

Opis

Točnost indeksa: ±.0005 (najgori slučaj). Apsolutna točnost indeksa ograničena je prvenstveno nesigurnošću u određivanju kuta i indeksa loma mjerne prizme. Za uzorke razumne optičke kvalitete, ako se koristi tablica visoke razlučivosti i ako je korisnik voljan izvesti jednostavan postupak kalibracije sa svakom prizmom, može se postići apsolutna točnost indeksa od ±.0001-.0002. NIST, fuzionirani silicij i drugi standardi dostupni su za kalibraciju indeksa.
Razlučivost indeksa: ±.0003 (najgori slučaj). Za uzorke razumne optičke kvalitete, rezolucija indeksa može se poboljšati do ±.00005 korištenjem rotirajućeg stola visoke rezolucije, besplatne opcije.
Preciznost debljine: ±(0,5% + 5 nm)
Razlučivost debljine: ±0,3%
Radna valna duljina: Dostupne su dodatne kraće valne duljine (405, 450, 473, 532, 594 nm) za mjerenje tanjih filmova i blizu IR (830, 980, 1064, 1310, 1550 nm) valne duljine za aplikacije s vlaknima/integriranom optikom. Izborni izvori mijenjaju CDRH sigurnosnu klasu u IIIa ili IIIb.
Tipično vrijeme mjerenja: 10-25 sekundi sa standardnom tablicom, 20-75 sekundi sa tablicom visoke rezolucije.
Područje mjerenja: dok su film i mjerna prizma u kontaktu preko površine od otprilike 8 mm kvadratnih, stvarno izmjereno područje filma je samo 1 mm promjera.
Raspon mjerenja indeksa loma: sa standardnim prizmama, filmovi i rasuti materijali s indeksom loma 2,65 i manjim su mjerljivi. Dostupne su specijalizirane prizme koje omogućuju mjerenje indeksa do 3,35 (konzultirajte Metricon za detalje).
Vrste filmova/rasponi debljina mjerljivi: Model 2010/M može mjeriti gotovo sve vrste filmova koji nisu metalni ili imaju visoku apsorpciju na radnoj valnoj duljini. U mnogim slučajevima, debljina i indeks jednog ili oba filma dvostrukih slojeva filma su mjerljivi*, pod uvjetom da gornji film ima veći indeks loma. Debljina mora premašiti minimalni prag koji ovisi o indeksu filma i podloge (ili donjeg filma).

Imajte na umu da je ovaj opis možda automatski preveden. Kontaktirajte nas za daljnje informacije. Podaci u ovom malom oglasu su okvirni. Exapro preporuča da prije kupnje provjerite detalje kod prodavatelja

Tehnički podaci

Softver
-------------------
Odrađeni sati
Sati pod strujom
Država dobro
Prema lokalnim normama ---------
Status

O ovom prodavaču

Tip klijenta Trgovac
Aktivan od 2019
Ponude online 73
Zadnja aktivnost 21. studenoga 2024.

Ovdje je izbor sličnih strojeva

Pogledajte sve alternative

Učitavanje sličnih strojeva...

Kategorije

Jelovnik Kategorije Pretraživanje

Jelovnik

Počnite prodavati

Projektor profila Metricon 2010/M