Tehnički podaci

-------------------
Odrađeni sati
Sati pod strujom
Država dobro
Prema lokalnim normama ---------
Status vidljivo

Opis

SPEA 3030 Tester ploča

Dualbay sustav
godina 2007
dvije kontrolerske kartice iz 2009
Mjerni moduli: 2x New YAICT300
Skener (relejne kartice)
12 kartica sa 64 kanala (6 komada u svakom odjeljku)
U Bay 1 još uvijek postoje 4 64-kanalne plug-in kartice
PC s WIN7 32 bit (star samo oko 5 godina)
Instaliran Loeonardo 2.70
WIN7 i softverski sustav kreiran od strane SPEA;
Samo 2 programa instalirana za prijenos mjernih protokola
Posebna gornja ploča na sustavu za smještaj CRS adaptera.
Upravljao u SPEA s TFH165AA.

Potpuno funkcionalan

Lokacija: Njemačka

Imajte na umu da je ovaj opis možda automatski preveden. Kontaktirajte nas za daljnje informacije. Podaci u ovom malom oglasu su okvirni. Exapro preporuča da prije kupnje provjerite detalje kod prodavatelja


Tip klijenta Trgovac
Aktivan od 2016
Ponude online 4
Zadnja aktivnost 31. siječnja 2025.

Opis

SPEA 3030 Tester ploča

Dualbay sustav
godina 2007
dvije kontrolerske kartice iz 2009
Mjerni moduli: 2x New YAICT300
Skener (relejne kartice)
12 kartica sa 64 kanala (6 komada u svakom odjeljku)
U Bay 1 još uvijek postoje 4 64-kanalne plug-in kartice
PC s WIN7 32 bit (star samo oko 5 godina)
Instaliran Loeonardo 2.70
WIN7 i softverski sustav kreiran od strane SPEA;
Samo 2 programa instalirana za prijenos mjernih protokola
Posebna gornja ploča na sustavu za smještaj CRS adaptera.
Upravljao u SPEA s TFH165AA.

Potpuno funkcionalan

Lokacija: Njemačka

Imajte na umu da je ovaj opis možda automatski preveden. Kontaktirajte nas za daljnje informacije. Podaci u ovom malom oglasu su okvirni. Exapro preporuča da prije kupnje provjerite detalje kod prodavatelja


Tehnički podaci

-------------------
Odrađeni sati
Sati pod strujom
Država dobro
Prema lokalnim normama ---------
Status vidljivo

O ovom prodavaču

Tip klijenta Trgovac
Aktivan od 2016
Ponude online 4
Zadnja aktivnost 31. siječnja 2025.

Ovdje je izbor sličnih strojeva

SPEA 3030 Dual Bay ispitni sustav