Semilab CMS3 Ostya gép Ellenőrzött eladó

Leírás

GYORS, ÉRINTÉSMENTES ANYAGJELLEMZÉS ÉS FOLYAMATELLENŐRZÉS

Az emitterlap ellenállása a PV-alkalmazásokban használt szilíciumszeletek elsődleges minőségellenőrzési paramétere az emitter diffúziója után.

A CLS modellek, a CLS-1A, CLS-3A és CLS-5A, az emitterlap-ellenállás tesztelők lehetővé teszik a lapellenállás mérését 1-5 ponton, olyan nagy áteresztőképességgel, amely megfelel a teljesen automatizált cellagyártó sorok in-line minőségellenőrzésének követelményeinek.

A CMS modellek, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers lehetővé teszik az ostyák mérését, azaz a szállítószalag nem áll meg a mérés alatt. Ezért nagy áteresztőképességgel rendelkeznek, ami megfelel a teljesen automatizált cellagyártó sorok in-line minőségellenőrzésének követelményeinek.

Tulajdonságok és rendszerspecifikációk:

Mérési technika: érintésmentes, csomóponti fotofeszültség (JPV).
Mintaméret: 100-156 mm (210 mm-es opció)
Mintaszerkezet: np vagy pn átmenetek
Mérési tartomány: 10 Î/négyzetmétertől 200 I/négyzetméterig.
Szondatávolság: 1,5 mm szondamagasság a szállítási öv felett
Wafer függőleges pozíció tűrés: < 400 μm
Mintatartó: szalagon
Kalibrálás: négypontos szondával ellenőrzött ostyák által.
Opciók:

1A-5A lapellenállás-mérőfejekkel együtt.
Ipari PC (Windows operációs rendszer) és perifériák
CLS-1M emitterellenőrző opció
Wafer jelenlétérzékelő (csak CMS)
Az automatizáláshoz és a MES-hez rendelkezésre álló interfészek széles választéka:

24V optikailag leválasztott I/O, Ethernet interfész
Profibus
OPC DA
TCP/IP protokoll, a tartalom lehet XML vagy ASCII
SQL adatbázis
SECS/GEM