Vaflių mašina Semilab CMS3 Patvirtintas pardavėjas

apibūdinimas

GREITAS BEKONTAKTIS MEDŽIAGŲ APIBŪDINIMAS IR PROCESO KONTROLĖ

Emiterio lakšto varža yra pagrindinis silicio plokštelių, naudojamų fotovoltiniuose įrenginiuose, kokybės kontrolės parametras po emiterio difuzijos.

CLS modeliais CLS-1A, CLS-3A ir CLS-5A, emiterio lakšto varžos testeriais galima matuoti lakšto varžą nuo 1 iki 5 taškų, užtikrinant didelį našumą, atitinkantį kokybės kontrolės reikalavimus visiškai automatizuotose elementų gamybos linijose.

CMS modeliai, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers leidžia matuoti plokšteles, t. y. matavimo metu konvejerio juosta nesustoja. Todėl jie pasižymi dideliu našumu, atitinkančiu visiškai automatizuotų ląstelių gamybos linijų linijinės kokybės kontrolės reikalavimus.

Funkcijos ir sistemos specifikacijos:

Matavimų metodas: bekontaktis, jungties fotovoltinė įtampa (JPV).
Mėginio dydis: nuo 100 iki 156 mm (210 mm pasirinktinai)
Bandinio struktūra: np arba pn sandūros
Matavimo diapazonas: Nuo 10 Î/kv. iki 200 I/kv.
Atstumas tarp zondų: 1,5 mm zondo aukštis virš transporto juostos
Plokštelės vertikalios padėties tolerancija: < 400 μm
Mėginio laikiklis: ant diržo
Kalibravimas: pagal plokšteles, patikrintas keturių taškų zondu


1A-5A lakštų varžos matavimo galvutės)
Pramoninis kompiuteris (Windows operacinė sistema) ir periferiniai įrenginiai
CLS-1M emiterio tikrinimo įtaiso pasirinktis
Plokštelės buvimo jutiklis (tik CMS)
Platus galimų sąsajų su automatizavimo ir MES pasirinkimas:

24 V optiškai izoliuotos I/O, Ethernet sąsaja
Profibus
OPC DA
TCP/IP protokolas, turinys gali būti XML arba ASCII
SQL duomenų bazė
SECS/GEM