Categorieën
Begin met verkopen

Rekening

Log in
Account aanmaken

Rekening

Log in
Account aanmaken
Semilab CMS3 P240314066
Semilab CMS3 P240314066
Semilab CMS3 P240314066
Semilab CMS3 P240314066

Semilab CMS3 Wafelmachine Geverifieerde verkoper

Prijs op aanvraag

Doe een tegenbod
Fabrikant Semilab
Model CMS3
Jaar
Plaats hert US
Categorie Halfgeleider - Metrologieapparatuur
Product-ID P240314066
Taal
bg Машина за вафли Semilab CMS3
cs Waferovací stroj Semilab CMS3
da Semilab CMS3 Wafer maskine
de Semilab CMS3 Waferanlage
el Μηχανή γκοφρέτας Semilab CMS3
en Semilab CMS3 Sheet Resistance Measuring System
es Máquina para wafer Semilab CMS3
fr Machine pour wafer Semilab CMS3
hr Stroj za oblatne Semilab CMS3
hu Semilab CMS3 Ostya gép
it Macchina per wafer Semilab CMS3
lt Vaflių mašina Semilab CMS3
nl Semilab CMS3 Wafelmachine
pl Maszyna do produkcji płytek półprzewodnikowych Semilab CMS3
pt Máquina de wafer Semilab CMS3
ro Aparat pentru napolitane Semilab CMS3
ru Semilab CMS3 Пластина
sr Mašina za vafle Semilab CMS3
sv Semilab CMS3 Wafer maskin
tr Wafer Makinası Semilab CMS3

Specificaties

Software
-------------------
Gewerkte uren
Uur onder stroom
Staat Goed
Volgens lokale normen ---------
Toestand

Beschrijving

SNELLE CONTACTLOZE MATERIAALKARAKTERISERING EN PROCESBESTURING

De weerstand van de emitterplaat is een primaire parameter voor kwaliteitscontrole van siliciumwafers in PV-toepassingen na emitterdiffusie.

Met de CLS-modellen CLS-1A, CLS-3A en CLS-5A, weerstandstesters voor emitterplaten, kan de plaatweerstand op 1 tot 5 punten worden gemeten met een hoge verwerkingscapaciteit die voldoet aan de eisen van in-line kwaliteitscontrole in volledig geautomatiseerde celproductielijnen.

Met de CMS modellen, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers kunnen wafers gemeten worden, d.w.z. de transportband stopt niet tijdens de meting. Daarom hebben ze een hoge verwerkingscapaciteit die voldoet aan de vereisten van in-line kwaliteitscontrole in volledig geautomatiseerde celproductielijnen.

Kenmerken en systeemspecificaties:

Meettechniek: contactloos, junction photovoltage (JPV)
Monstergrootte: 100 tot 156 mm (210 mm optie)
Monsterstructuur: np- of pn-juncties
Meetbereik: 10 Î/sq. tot 200 I/sq.
Sondeafstand: 1,5 mm sondehoogte boven transportband
Tolerantie verticale positie wafer: < 400 μm
Monstersteun: op band
Kalibratie: door wafers geverifieerd met vierpuntssonde
Opties:

Meetmodule (incl. 1A-5A meetkoppen voor plaatweerstand)
Industriële pc (Windows-besturingssysteem) en randapparatuur
Optie: CLS-1M emittercontrole
Wafer-aanwezigheidssensor (alleen CMS)
Grote verscheidenheid aan beschikbare interfaces voor automatisering en MES:

24V optisch geïsoleerde I/O, Ethernet-interface
Profibus
OPC DA
TCP/IP-protocol, inhoud kan XML of ASCII zijn
SQL-database
SECS/GEM

Houd er rekening mee dat deze beschrijving mogelijk automatisch is vertaald. Neem contact met ons op voor meer informatie. De gegevens van deze rubrieksadvertentie zijn slechts indicatief. Exapro raadt aan om vóór een aankoop de gegevens bij de verkoper te controleren


Type klant Dealer
Actief sinds 2019
Aanbiedingen online 73
Laatste Activiteit 19 december 2024

Beschrijving

SNELLE CONTACTLOZE MATERIAALKARAKTERISERING EN PROCESBESTURING

De weerstand van de emitterplaat is een primaire parameter voor kwaliteitscontrole van siliciumwafers in PV-toepassingen na emitterdiffusie.

Met de CLS-modellen CLS-1A, CLS-3A en CLS-5A, weerstandstesters voor emitterplaten, kan de plaatweerstand op 1 tot 5 punten worden gemeten met een hoge verwerkingscapaciteit die voldoet aan de eisen van in-line kwaliteitscontrole in volledig geautomatiseerde celproductielijnen.

Met de CMS modellen, CMS-1A, CMS-3A, Emitter Sheet Resistance Testers kunnen wafers gemeten worden, d.w.z. de transportband stopt niet tijdens de meting. Daarom hebben ze een hoge verwerkingscapaciteit die voldoet aan de vereisten van in-line kwaliteitscontrole in volledig geautomatiseerde celproductielijnen.

Kenmerken en systeemspecificaties:

Meettechniek: contactloos, junction photovoltage (JPV)
Monstergrootte: 100 tot 156 mm (210 mm optie)
Monsterstructuur: np- of pn-juncties
Meetbereik: 10 Î/sq. tot 200 I/sq.
Sondeafstand: 1,5 mm sondehoogte boven transportband
Tolerantie verticale positie wafer: < 400 μm
Monstersteun: op band
Kalibratie: door wafers geverifieerd met vierpuntssonde
Opties:

Meetmodule (incl. 1A-5A meetkoppen voor plaatweerstand)
Industriële pc (Windows-besturingssysteem) en randapparatuur
Optie: CLS-1M emittercontrole
Wafer-aanwezigheidssensor (alleen CMS)
Grote verscheidenheid aan beschikbare interfaces voor automatisering en MES:

24V optisch geïsoleerde I/O, Ethernet-interface
Profibus
OPC DA
TCP/IP-protocol, inhoud kan XML of ASCII zijn
SQL-database
SECS/GEM

Houd er rekening mee dat deze beschrijving mogelijk automatisch is vertaald. Neem contact met ons op voor meer informatie. De gegevens van deze rubrieksadvertentie zijn slechts indicatief. Exapro raadt aan om vóór een aankoop de gegevens bij de verkoper te controleren

Specificaties

Software
-------------------
Gewerkte uren
Uur onder stroom
Staat Goed
Volgens lokale normen ---------
Toestand

Over deze verkoper

Type klant Dealer
Actief sinds 2019
Aanbiedingen online 73
Laatste Activiteit 19 december 2024

Hier vindt u een selectie van vergelijkbare machines

Bekijk alle alternatieven

Soortgelijke machines laden...

Categorieën

Menu Categorieën Zoek op

Menu

Begin met verkopen

Semilab CMS3 Wafelmachine