Dane techniczne

-------------------
Roboczogodziny
Godziny podłączenia do prądu
Stan techniczny dobry
Zgodność z normami CE ---------
Status

Opis

Systemy kontroli wafli Rudolph Technologies NSX® oferują wysoką przepustowość wraz z powtarzalną kontrolą defektów wafli makro dla defektów 0,5 mikrona i większych.

Makro defekty wafli mogą wystąpić na różnych etapach produkcji półprzewodników i mogą mieć duży wpływ na jakość urządzeń mikroelektronicznych. Ten ekonomiczny, używany system kontroli wafli NSX 105 firmy Rudolph Technologies szybko i dokładnie wykrywa krytyczne defekty i zapewnia jakość oprócz cennych informacji o procesie.

System kontroli wafli NSX 105 jest sprawdzony w szerokim zakresie zastosowań, w tym w półprzewodnikach, waflach typu bumping, MEMS, optoelektronice, mikro wyświetlaczach i przechowywaniu danych.

Kluczowe cechy tego w pełni odnowionego systemu kontroli płytek:
Analiza procesu za pomocą sondy waflowej
Zautomatyzowana kontrola makro defektów
Szybka, niezawodna kontrola wypukłości 2D
Zaawansowana kontrola procesu i raportowanie
Szybki, elastyczny, odnowiony system zautomatyzowanej kontroli płytek UltraPort-5, który obsługuje całe płytki od 150 mm do 300 mm i płytki na ramkach foliowych.

Ten opis mógł być przetłumaczony automatycznie. W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt. Informacje zawarte w tym ogłoszeniu mają jedynie charakter orientacyjny. Sugerujemy sprawdzić szczegóły ze sprzedawcą przed dokonaniem zakupu.


Rodzaj klienta Handlarz
Aktywny od 2019
Liczba ofert online 14
Ostatnia aktywność 28 lutego 2025

Opis

Systemy kontroli wafli Rudolph Technologies NSX® oferują wysoką przepustowość wraz z powtarzalną kontrolą defektów wafli makro dla defektów 0,5 mikrona i większych.

Makro defekty wafli mogą wystąpić na różnych etapach produkcji półprzewodników i mogą mieć duży wpływ na jakość urządzeń mikroelektronicznych. Ten ekonomiczny, używany system kontroli wafli NSX 105 firmy Rudolph Technologies szybko i dokładnie wykrywa krytyczne defekty i zapewnia jakość oprócz cennych informacji o procesie.

System kontroli wafli NSX 105 jest sprawdzony w szerokim zakresie zastosowań, w tym w półprzewodnikach, waflach typu bumping, MEMS, optoelektronice, mikro wyświetlaczach i przechowywaniu danych.

Kluczowe cechy tego w pełni odnowionego systemu kontroli płytek:
Analiza procesu za pomocą sondy waflowej
Zautomatyzowana kontrola makro defektów
Szybka, niezawodna kontrola wypukłości 2D
Zaawansowana kontrola procesu i raportowanie
Szybki, elastyczny, odnowiony system zautomatyzowanej kontroli płytek UltraPort-5, który obsługuje całe płytki od 150 mm do 300 mm i płytki na ramkach foliowych.

Ten opis mógł być przetłumaczony automatycznie. W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt. Informacje zawarte w tym ogłoszeniu mają jedynie charakter orientacyjny. Sugerujemy sprawdzić szczegóły ze sprzedawcą przed dokonaniem zakupu.


Dane techniczne

-------------------
Roboczogodziny
Godziny podłączenia do prądu
Stan techniczny dobry
Zgodność z normami CE ---------
Status

O sprzedawcy

Rodzaj klienta Handlarz
Aktywny od 2019
Liczba ofert online 14
Ostatnia aktywność 28 lutego 2025

Lista podobnych maszyn

Maszyna do produkcji płytek półprzewodnikowych Rudolph Technologies NSX 105