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Semilab CMS3 P240314066
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Máquina de wafer Semilab CMS3 Vendedor verificado

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Fabricante Semilab
Modelo CMS3
Ano
Localização cervo US
Categoria Semicondutores - Equipamentos de metrologia
ID do produto P240314066
Linguagem
bg Машина за вафли Semilab CMS3
cs Waferovací stroj Semilab CMS3
da Semilab CMS3 Wafer maskine
de Semilab CMS3 Waferanlage
el Μηχανή γκοφρέτας Semilab CMS3
en Semilab CMS3 Sheet Resistance Measuring System
es Máquina para wafer Semilab CMS3
fr Machine pour wafer Semilab CMS3
hr Stroj za oblatne Semilab CMS3
hu Semilab CMS3 Ostya gép
it Macchina per wafer Semilab CMS3
lt Vaflių mašina Semilab CMS3
nl Semilab CMS3 Wafelmachine
pl Maszyna do produkcji płytek półprzewodnikowych Semilab CMS3
pt Máquina de wafer Semilab CMS3
ro Aparat pentru napolitane Semilab CMS3
ru Semilab CMS3 Пластина
sr Mašina za vafle Semilab CMS3
sv Semilab CMS3 Wafer maskin
tr Wafer Makinası Semilab CMS3

Especificações

Software
-------------------
Horas trabalhadas
Horas sob energia
Estado bom
Nas normas locais ---------
Status

Descrição

CARACTERIZAÇÃO RÁPIDA E SEM CONTACTO DE MATERIAIS E CONTROLO DE PROCESSOS

A resistência da folha do emissor é um parâmetro de controlo de qualidade primário para bolachas de silício em aplicações fotovoltaicas após a difusão do emissor.

Os modelos CLS, CLS-1A, CLS-3A e CLS-5A, permitem a medição da resistência da folha em 1 a 5 pontos com o elevado rendimento que satisfaz os requisitos do controlo de qualidade em linha em linhas de produção de células totalmente automatizadas.

Os modelos CMS, CMS-1A e CMS-3A, permitem a medição de bolachas, ou seja, a correia transportadora não pára durante a medição. Por conseguinte, têm um elevado rendimento que satisfaz os requisitos do controlo de qualidade em linha em linhas de produção de células totalmente automatizadas.

Características e especificações do sistema:

Técnica de medição: sem contacto, fotovoltagem de junção (JPV)
Tamanho da amostra: 100 a 156 mm (opção de 210 mm)
Estrutura da amostra: junções np ou pn
Gama de medição: 10 Î/sq. a 200 I/sq.
Distância da sonda: 1,5 mm de altura da sonda acima da correia de transporte
Tolerância da posição vertical da pastilha: < 400 μm
Suporte da amostra: na correia
Calibração: por bolachas verificadas com sonda de quatro pontos
Opções:

Módulo de medição (incl. cabeças de medição de resistência de folha 1A-5A)
PC industrial (sistema operativo Windows) e periféricos
Opção de verificador de emissor CLS-1M
Sensor de presença de wafer (apenas CMS)
Grande variedade de interfaces disponíveis para automação e MES:

E/S 24V opticamente isolada, interface Ethernet
Profibus
OPC DA
Protocolo TCP/IP, conteúdo pode ser XML ou ASCII
Base de dados SQL
SCEE/GEM

Observe que esta descrição pode ter sido traduzida automaticamente. Contate-nos para mais informações. As informações deste anúncio classificado são apenas indicativas. Exapro recomenda verificar os detalhes com o vendedor antes de comprar


Tipo de cliente Distribuidor
Ativo Desde 2019
Ofertas on-line 73
Ultima atividade 21 de Novembro de 2024

Descrição

CARACTERIZAÇÃO RÁPIDA E SEM CONTACTO DE MATERIAIS E CONTROLO DE PROCESSOS

A resistência da folha do emissor é um parâmetro de controlo de qualidade primário para bolachas de silício em aplicações fotovoltaicas após a difusão do emissor.

Os modelos CLS, CLS-1A, CLS-3A e CLS-5A, permitem a medição da resistência da folha em 1 a 5 pontos com o elevado rendimento que satisfaz os requisitos do controlo de qualidade em linha em linhas de produção de células totalmente automatizadas.

Os modelos CMS, CMS-1A e CMS-3A, permitem a medição de bolachas, ou seja, a correia transportadora não pára durante a medição. Por conseguinte, têm um elevado rendimento que satisfaz os requisitos do controlo de qualidade em linha em linhas de produção de células totalmente automatizadas.

Características e especificações do sistema:

Técnica de medição: sem contacto, fotovoltagem de junção (JPV)
Tamanho da amostra: 100 a 156 mm (opção de 210 mm)
Estrutura da amostra: junções np ou pn
Gama de medição: 10 Î/sq. a 200 I/sq.
Distância da sonda: 1,5 mm de altura da sonda acima da correia de transporte
Tolerância da posição vertical da pastilha: < 400 μm
Suporte da amostra: na correia
Calibração: por bolachas verificadas com sonda de quatro pontos
Opções:

Módulo de medição (incl. cabeças de medição de resistência de folha 1A-5A)
PC industrial (sistema operativo Windows) e periféricos
Opção de verificador de emissor CLS-1M
Sensor de presença de wafer (apenas CMS)
Grande variedade de interfaces disponíveis para automação e MES:

E/S 24V opticamente isolada, interface Ethernet
Profibus
OPC DA
Protocolo TCP/IP, conteúdo pode ser XML ou ASCII
Base de dados SQL
SCEE/GEM

Observe que esta descrição pode ter sido traduzida automaticamente. Contate-nos para mais informações. As informações deste anúncio classificado são apenas indicativas. Exapro recomenda verificar os detalhes com o vendedor antes de comprar

Especificações

Software
-------------------
Horas trabalhadas
Horas sob energia
Estado bom
Nas normas locais ---------
Status

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Tipo de cliente Distribuidor
Ativo Desde 2019
Ofertas on-line 73
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