Máquina de wafer Semilab CMS3 Vendedor verificado

Descrição

CARACTERIZAÇÃO RÁPIDA E SEM CONTACTO DE MATERIAIS E CONTROLO DE PROCESSOS

A resistência da folha do emissor é um parâmetro de controlo de qualidade primário para bolachas de silício em aplicações fotovoltaicas após a difusão do emissor.

Os modelos CLS, CLS-1A, CLS-3A e CLS-5A, permitem a medição da resistência da folha em 1 a 5 pontos com o elevado rendimento que satisfaz os requisitos do controlo de qualidade em linha em linhas de produção de células totalmente automatizadas.

Os modelos CMS, CMS-1A e CMS-3A, permitem a medição de bolachas, ou seja, a correia transportadora não pára durante a medição. Por conseguinte, têm um elevado rendimento que satisfaz os requisitos do controlo de qualidade em linha em linhas de produção de células totalmente automatizadas.

Características e especificações do sistema:

Técnica de medição: sem contacto, fotovoltagem de junção (JPV)
Tamanho da amostra: 100 a 156 mm (opção de 210 mm)
Estrutura da amostra: junções np ou pn
Gama de medição: 10 Î/sq. a 200 I/sq.
Distância da sonda: 1,5 mm de altura da sonda acima da correia de transporte
Tolerância da posição vertical da pastilha: < 400 μm
Suporte da amostra: na correia
Calibração: por bolachas verificadas com sonda de quatro pontos
Opções:

Módulo de medição (incl. cabeças de medição de resistência de folha 1A-5A)
PC industrial (sistema operativo Windows) e periféricos
Opção de verificador de emissor CLS-1M
Sensor de presença de wafer (apenas CMS)
Grande variedade de interfaces disponíveis para automação e MES:

E/S 24V opticamente isolada, interface Ethernet
Profibus
OPC DA
Protocolo TCP/IP, conteúdo pode ser XML ou ASCII
Base de dados SQL
SCEE/GEM