Aparat pentru napolitane Semilab CMS3 Vanzator verificat

Descriere

CARACTERIZAREA RAPIDĂ FĂRĂ CONTACT A MATERIALELOR ȘI CONTROLUL PROCESELOR

Rezistența foii de emițător este un parametru primar de control al calității pentru plachetele de siliciu în aplicațiile fotovoltaice după difuzarea emițătorului.

Modelele CLS, CLS-1A, CLS-3A și CLS-5A, aparatele de testare a rezistenței foilor de emițător permit măsurarea rezistenței foilor în 1 până la 5 puncte, cu un randament ridicat care îndeplinește cerințele de control al calității în linie în liniile de producție a celulelor complet automatizate.

Modelele CMS, CMS-1A, CMS-3A, aparatele de testare a rezistenței foilor emițătoare permit măsurarea plachetelor, adică banda transportoare nu se oprește în timpul măsurării. Prin urmare, acestea au un randament ridicat care îndeplinește cerințele de control al calității în linie în liniile de producție de celule complet automatizate.

Caracteristici și specificații ale sistemului:

Tehnica de măsurare: fără contact, fototensiune de joncțiune (JPV)
Dimensiunea eșantionului: de la 100 la 156 mm (opțiune 210 mm)
Structura eșantionului: joncțiuni np sau pn
Domeniu de măsurare: 10: 10 Î/sq. până la 200 I/sq.
Distanța sondei: 1,5 mm înălțimea sondei deasupra centurii de transport
Toleranța poziției verticale a plachetei: < 400 μm
Suportul probei: pe bandă
Calibrare: prin plachete verificate cu sonda cu patru puncte
Opțiuni:

Modul de măsurare (incl. capete de măsurare a rezistenței foilor 1A-5A)
PC industrial (sistem de operare Windows) și periferice
Opțiune verificator emițător CLS-1M
Senzor de prezență a plăcilor (numai CMS)
O mare varietate de interfețe disponibile pentru automatizare și MES:

24V I/O izolate optic, interfață Ethernet
Profibus
OPC DA
Protocol TCP/IP, conținutul poate fi XML sau ASCII
Baza de date SQL
SECS/GEM