Детальная информация

Программное обеспечение
-------------------
Часы наработки
Часы включения
Состояние в хорошем состоянии
Маркировка CE ---------
Статус

описание

Точность индекса: ±.0005 (в худшем случае). Абсолютная точность индекса ограничена в основном неопределенностью в определении угла и показателя преломления измерительной призмы. Для образцов с приемлемым оптическим качеством, при использовании таблицы с высоким разрешением и при желании пользователя выполнить простую процедуру калибровки каждой призмы, может быть достигнута абсолютная точность индекса ±.0001-.0002. Для калибровки индексов доступны стандарты NIST, плавленый кварц и другие стандарты.
Разрешение индекса: ±.0003 (в худшем случае). Для образцов с приемлемым оптическим качеством разрешение индекса может быть улучшено до ±.00005 за счет использования поворотного стола с высоким разрешением, что является бесплатной опцией.
Точность измерения толщины: ±(0,5% + 5 нм)
Разрешение по толщине: ±0,3%
Рабочая длина волны: Опционально доступны более короткие длины волн (405, 450, 473, 532, 594 нм) для измерения тонких пленок и волны ближнего ИК-диапазона (830, 980, 1064, 1310, 1550 нм) для применения в оптоволокне/интегрированной оптике. Дополнительные источники изменяют класс безопасности по CDRH на IIIa или IIIb.
Типичное время измерения: 10-25 секунд со стандартным столом, 20-75 секунд со столом высокого разрешения.
Область измерения: Пленка и измерительная призма соприкасаются на площади около 8 мм квадратных, но фактически измеряемая площадь пленки составляет всего 1 мм в диаметре.
Диапазон измерения показателя преломления: С помощью стандартных призм можно измерять пленки и сыпучие материалы с показателем преломления 2,65 и ниже. Имеются специализированные призмы, позволяющие измерять индекс до 3,35 (подробности уточняйте в Metricon).
Измеряемые типы/диапазоны толщины пленки: Модель 2010/M может измерять практически любые типы пленок, которые не являются металлическими или сильно поглощающими на рабочей длине волны. Во многих случаях можно измерить толщину и индекс одной или обеих пленок двухслойных пленок*, при условии, что верхняя пленка имеет более высокий коэффициент преломления. Толщина должна превышать минимальный порог, который зависит от индекса пленки и подложки (или нижележащей пленки).

Данное описание может быть переведено автоматически. Свяжитесь с нами для получения дополнительной информации. Информация в данном объявлении носит ориентировочный характер. Мы рекомендуем перед покупкой станка уточнять детали у продавца.


Тип клиента Дилер
Активный с 2019
Предложения онлайн 73
Последняя активность 19 декабря 2024 г.

Описание

Точность индекса: ±.0005 (в худшем случае). Абсолютная точность индекса ограничена в основном неопределенностью в определении угла и показателя преломления измерительной призмы. Для образцов с приемлемым оптическим качеством, при использовании таблицы с высоким разрешением и при желании пользователя выполнить простую процедуру калибровки каждой призмы, может быть достигнута абсолютная точность индекса ±.0001-.0002. Для калибровки индексов доступны стандарты NIST, плавленый кварц и другие стандарты.
Разрешение индекса: ±.0003 (в худшем случае). Для образцов с приемлемым оптическим качеством разрешение индекса может быть улучшено до ±.00005 за счет использования поворотного стола с высоким разрешением, что является бесплатной опцией.
Точность измерения толщины: ±(0,5% + 5 нм)
Разрешение по толщине: ±0,3%
Рабочая длина волны: Опционально доступны более короткие длины волн (405, 450, 473, 532, 594 нм) для измерения тонких пленок и волны ближнего ИК-диапазона (830, 980, 1064, 1310, 1550 нм) для применения в оптоволокне/интегрированной оптике. Дополнительные источники изменяют класс безопасности по CDRH на IIIa или IIIb.
Типичное время измерения: 10-25 секунд со стандартным столом, 20-75 секунд со столом высокого разрешения.
Область измерения: Пленка и измерительная призма соприкасаются на площади около 8 мм квадратных, но фактически измеряемая площадь пленки составляет всего 1 мм в диаметре.
Диапазон измерения показателя преломления: С помощью стандартных призм можно измерять пленки и сыпучие материалы с показателем преломления 2,65 и ниже. Имеются специализированные призмы, позволяющие измерять индекс до 3,35 (подробности уточняйте в Metricon).
Измеряемые типы/диапазоны толщины пленки: Модель 2010/M может измерять практически любые типы пленок, которые не являются металлическими или сильно поглощающими на рабочей длине волны. Во многих случаях можно измерить толщину и индекс одной или обеих пленок двухслойных пленок*, при условии, что верхняя пленка имеет более высокий коэффициент преломления. Толщина должна превышать минимальный порог, который зависит от индекса пленки и подложки (или нижележащей пленки).

Данное описание может быть переведено автоматически. Свяжитесь с нами для получения дополнительной информации. Информация в данном объявлении носит ориентировочный характер. Мы рекомендуем перед покупкой станка уточнять детали у продавца.


Детальная информация

Программное обеспечение
-------------------
Часы наработки
Часы включения
Состояние в хорошем состоянии
Маркировка CE ---------
Статус

Об этом продавце

Тип клиента Дилер
Активный с 2019
Предложения онлайн 73
Последняя активность 19 декабря 2024 г.

Вот выбор подобных станков

Metricon 2010/M Проектор профил