Wafer Makinası Semilab CMS3 Doğrulanmış satıcı

açıklama

HIZLI TEMASSIZ MALZEME KARAKTERIZASYONU VE PROSES KONTROLÜ

Emitör tabaka direnci, emitör difüzyonundan sonra PV uygulamalarında silikon gofretler için birincil kalite kontrol parametresidir.

CLS modelleri, CLS-1A, CLS-3A ve CLS-5A, Emitör Tabaka Direnci Test Cihazları, tam otomatik hücre üretim hatlarında hat içi kalite kontrol gereksinimlerini karşılayan yüksek verimle 1 ila 5 noktada tabaka direncinin ölçülmesini sağlar.

CMS modelleri, CMS-1A, CMS-3A, Emitör Levha Direnci Test Cihazları, gofretlerin ölçümüne izin verir, yani ölçüm sırasında konveyör bandı durmaz. Bu nedenle, tam otomatik hücre üretim hatlarında hat içi kalite kontrol gereksinimlerini karşılayan yüksek verimliliğe sahiptirler.

Özellikler ve Sistem özellikleri:

Ölçüm tekniği: temassız, bağlantı fotovoltajı (JPV)
Numune boyutu: 100 ila 156 mm (210 mm seçeneği)
Örnek yapı: np veya pn bağlantıları
Ölçüm aralığı: 10 Î/sq. ila 200 I/sq.
Prob mesafesi: Taşıma kemeri üzerinde 1,5 mm prob yüksekliği
Wafer dikey konum toleransı: < 400 μm
Örnek destek: kayış üzerinde
Kalibrasyon: dört nokta probu ile doğrulanmış gofretler ile
Seçenekler:

Ölçüm modülü (1A-5A sac direnci ölçüm kafaları dahil)
Endüstriyel PC (Windows işletim sistemi) ve çevre birimleri
CLS-1M emitör kontrol seçeneği
Gofret varlık sensörü (yalnızca CMS)
Otomasyon ve MES için çok çeşitli mevcut arayüzler:

24V optik olarak yalıtılmış I/O, Ethernet arayüzü
Profibus
OPC DA
TCP/IP protokolü, içerik XML veya ASCII olabilir
SQL veritabanı
SECS/GEM